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顯微 CT 和 3D X 射線顯微鏡的未來
X4 POSEIDON 是一款功能*的微型計算機斷層掃描機,采用緊湊的臺式設計,具有落地式系統的功能。
顯微計算機斷層掃描(Micro-CT)又稱三維 X 射線顯微鏡(3D XRM),是一種優良的成像技術,可為生物醫學、生命科學和材料科學提供深入的樣品三維視圖。
X4 POSEIDON - 一瞥:
X4 POSEIDON 是優良的高分辨率三維 X 射線成像系統,它建立在我們久負盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統的成功基礎之上。
X4 POSEIDON 的模塊化硬件和以用戶為中心的軟件可滿足任何分析任務的需要。得益于其旗艦技術,該系統在視場、放大率和速度之間實現了有效平衡--掃描速度快如閃電,覆蓋范圍廣,可分辨小至 2 μm 的特征。
X4 POSEIDON 結合了兩個探測器,是有史以來第一個多視角臺式三維 X 射線顯微鏡解決方案。我們優良的采集算法和獨特的 GEM Plus™ 功能可確保以有效方式采集每一組三維圖像。
X4 POSEIDON 是一種無障礙的步入式系統,具有簡單明了的工作流程、直觀的用戶界面和多語言支持,提供易用性。
X4 POSEIDON 只需要標準電源和實驗室工作臺,就可以安裝在任何實驗室中,為每個人、每個地方帶來高質量、非破壞性的三維成像!
模塊化臺式機系統,可持續發展
X4 POSEIDON 是一種模塊化 X 射線臺式顯微鏡。該儀器可以根據不同的需求進行升級,而且隨著技術的發展,還可以輕松集成新的組件。
X4 POSEIDON 從一開始就是一個全面的微型計算機斷層掃描解決方案,具有多種高級功能增強用戶體驗。
X4 POSEIDON 的基本配置包括一個成熟的反射 X 射線源和多功能平板探測器。有了這些組件,該系統就能在不影響分辨率的情況下,以優秀的視野和銳利的對比度進行超快速掃描。
無論您的實驗室是支持不同研發領域的多個用戶,還是支持特定的工業流程,X4 POSEIDON 都能提供全面的無損、定性和定量三維分析功能。
GEM Plus™: 成像的靈活性
X4 POSEIDON 結合了掃描-幾何和多尺度視野技術,通過幾何放大倍率增強模式(GEM Plus™)為臺式機提供了很高的靈活性。
通過將樣品移近光源或移近探測器,可實現視場和分辨率的平衡。利用掃描幾何技術,探測器也可以連續移動,從而在實現相同放大倍率的同時,對給定的樣品尺寸進行理想的錐形光束利用,從而顯著提高掃描速度。
GEM Plus™ 以 Multi-Vision 和 Best-Scan-Geometry 為基礎,在純分辨率、掃描速度和視場角之間實現了很好平衡。
多視野: 雙探測器技術實現快速高分辨率 3D 成像
X4 POSEIDON 是真正的多探測器臺式 XRM 解決方案。它可以配備多功能平板探測器、科學級 CMOS 探測器或兩者兼備!
在選擇滿足您需求的理想探測器時,您必須考慮視場角、分辨率和掃描速度之間的平衡。如果速度是重中之重,那么平板探測器就非常適合您的應用。另一方面,sCMOS 探測器則是實現最高分辨率的理想選擇。
有了 X4 POSEIDON,您就不必再做選擇了--多虧了 Multi-Vision 功能,您可以兩者兼得!
X4 POSEIDON 平臺允許現場升級到 Multi-Vision。



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